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 | 日本日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪LCR 3522-50 LCR测试仪为日本日置公司生产的LCR测试仪，LCR 3522-50 LCR测试仪使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，以使用方便、功能完备和最佳性价比而见长 LCR 3522-50 LCR测试仪具有低价及更好的功用和性能 |
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 | 日本日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪日本日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪 |
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 | HIOKI 3532-50 LCR测试仪HIOKI 3532-50 LCR测试仪--搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪,HIOKI 3532-50 LCR测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来。 |
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 | 日本日置hioki 3535 LCR测试仪hioki 3535 LCR测试仪为日本日置公司生产的LCR测试仪，hioki 3535 LCR测试仪的频宽为100kHz～120MHz，hioki 3535 LCR测试仪采样为6ms |
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 | HIOKI 3501电容值测试仪/电容表HIOKI 3501电容值测试仪/电容表 |
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 | C测试仪 3504/电容测试仪 HIOKI 3504C测试仪 3504/电容测试仪 HIOKI 3504 |
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 | C测试仪 3504-10/电容测试仪 HIOKI 3504-10C测试仪 3504-10/电容测试仪 HIOKI 3504-10 |
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 | 日本日置HIOKI 3504-50电容测试仪,HIOKI 3504-50 C测试仪日本日置HIOKI 3504-50电容测试仪,HIOKI 3504-50 C测试仪 高速测量2ms，能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 |
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 | 日本日置HIOKI 3504-60电容测试仪日本日置HIOKI 3504-60电容测试仪 高速测量2ms，能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能，3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 |
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 | 日本日置HIOKI 3505高速电容测试HIOKI 3505高速电容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试，反复测量精度更高，最适合生产线 校正维修功能，减低由境的温度变化影响 测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能 比测仪的设定值和测定值的同步显示 ，2ms的高速测量1kHz,1MHz 测量 ，根据BIN的测定区分容量 ，比测仪和触发器同步输出功能 |
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 | 日置HIOKI 3506电容高速测试仪日置HIOKI 3506电容高速测试仪 HIOKI 3506高速电容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 |
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